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ZA57630
36 MHz阻抗分析儀
電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發的頻率依賴性，二極管等半導體器件由於DC偏置疊加而產生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC振幅和DC偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。
  說明

特點

結合用途配備豐富的功能！
以最適合DUT特性的設定，支持高重現性且準確的測量。
準確的評價基於實際使用的操作條件。

電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發的頻率依賴性，二極管等半導體器件由於DC偏置疊加而產生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC振幅和DC偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。
 

“True Value”
測量真正的特性。

ZA57630

▲ ZA57630

ce

 

從電子零件、半導體器件到材料的特性評價，應對多樣的阻抗測量需求　　　　

 

 
 

 

基本精度
 

 

頻率範圍
 

 

阻抗範圍
 

 

測量AC 信號級別
 
 

 

DC 偏置
 
 

 

測量時間
 

 

測量參數
 
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs', εs”,µs, µs', µs”, FREQUENCY
 
 

 

快速測量   業界最快0.5 ms/point

實現了業界最快的0.5ms/point。
縮短生產線的節拍時間，提高測量作業的效率。
此外，通過增加設定的測量時間，使測量結果平均化，減輕噪聲的影響。可視需要選擇最合適的測量時間。

img01
 
 

 

4種測量模式   應對廣泛的DUT

 

 

IMPD-3T
   標準測量模式

本模式可以在廣泛的頻率範圍內進行高精度測量。可使用測試線及測試夾具，應對各種形狀的試樣。

img02
 
 

 

IMPD-2T
   高頻測量模式

本模式可以在10MHz 以上的高頻下進行穩定的測量。使用N 型連接器進行2 端子測量，即便配線長，也可以進行穩定的測量。

img03
 
 

 

IMPD-EXT
  外部擴展測量模式

本模式為外部連接放大器或分流電阻等物進行測量。
可以通過施加高壓信號或檢測微小電壓/電流進行單獨使用本儀器無法應對的測量。

img04
 
 

 

G-PH
   增益/相位測量模式

本模式可以測量濾波器、放大器等的傳輸特性。向被測電路施加掃描信號，高精度地測量其頻率響應（增益、相位）。

img05
 

 

 

 

正面面板測量端子img06
測量實績數據(各類電子元件以及電子材料)

 

 

電容器
● 0.1μF電容(引腳元件)

電容頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)
● 0.1μF電容(引腳元件)

阻抗頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)

● 4.7μF電容器(SMD元件)

電容ESR測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)

 


 

 

 

電感器
● 10μH電感器(SMD元件)

自諧振頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)
● RFID傳輸用天線電感器(PCB裝機)

共振頻率測量

graph

高頻測量模式(IMPD-2T)

● 220μH線圈電感器

自諧振頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)

 

 

 

 

電阻器
● 50MΩ電阻器

高阻抗測量

graph

外部擴張測量模式(IMPD-EXT)
連接外部寬頻電流放大器(SA-604F2)所測量

 

 

 

 

壓電元件
●壓電陶瓷振盪器

共振頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)
利用marker操作，顯示共振點的數值

共振頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)
使用marker操作，顯示共振點·反共振點的數值

 

 

 

液體
●純淨水

阻抗頻率測量

graph

標準測量模式(IMPD-3T)
使用液體專用測量治具所測量

介電常數測量

graph

通過左邊的阻抗頻率測試結果所計算出的介電常數數值(εs´, εs”)

 

 

 

電路
● CR濾波器(fc≒10 MHz)

增益/相位測量(G-PH)

graph

增益/相位測量模式

 
 
  產品規格

外觀尺寸

 

dimention

附帶品

 

 

使用說明書（基本篇、應用篇、外部控制各1）

 

 

電源線組件（帶3 芯插頭, 2m） 1

 

 

校準治具 1

 

 

100 Ω電阻器 1

 

PA-001-3234

PA-001-3234 校準治具

PA-001-3234

PA-001-3233 100 Ω電阻器

選購件

型號 品名 補充說明
PA−001−3233 100 Ω電阻器 維護用
PA−001−3234 校準治具 維護用
PA−001−3270 架式套件（EIA）  
PA−001−3271 架式套件（JIS）  

 

 

 

 

測試夾具、測試導線
 

 

通用部件

針對多種形狀的被測物穩定測試

  • ●  2324
2324

4端子鱷魚夾測試導線
測量頻率≤ 100 kHz
  • ●  2325AL, 2325AM
2325al_am

開爾文夾測試導線
測量頻率≤ 100 kHz
  • ●  ZM2392
zm2392

開爾文測量夾測試導線
測量頻率≤ 20 kHz
  • ●  ZM2391
zm2391

3端子鱷魚夾測試導線
測量頻率≤ 20 kHz

    

 

 

 

芯片部件

2端子或4端子連接的表面鑲嵌安裝部件測試用治

  • ●  ZM2394
zm2394

芯片測試夾具
測量頻率≤ 2 MHz
對應部件尺寸
0603 (厚度0.3mm)～
14 mm角
  • ●  ZM2394H
zm2394h

芯片測試夾具
測量頻率≤ 30 MHz
對應部件尺寸
0603 (厚度0.3mm)～
14 mm角
  • ●  ZM2393
zm2393

芯片測試夾具
測量頻率≤ 1.2 MHz
對應部件尺寸
1608～5750
  • ●  ZM2366
zm2366

芯片部件用測試導線
測量頻率≤ 10 MHz
先端間隔0～8 mm (typ.)
  • ●  2326A
2326a

芯片部件用測試導線
測量頻率≤ 1.2 MHz
先端間隔0～8 mm (typ.)

  

 

 

 

導線類部件

插入試料上部便可進行測試

  • ●  ZM2363
zm2363

測試夾具
測量頻率≤ 10 MHz